1. 脈沖幅度：脈沖信號(hào)的電壓幅值。當(dāng)采用A 型顯示時(shí)，通常為時(shí)基線到脈沖峰頂?shù)母叨取?/span>
2. 脈沖長(zhǎng)度：以時(shí)間或周期數(shù)值表示的脈沖持續(xù)時(shí)間。
3. 分貝：兩個(gè)振幅或者強(qiáng)度比的對(duì)數(shù)表示。
4. 聲阻抗：聲波的聲壓與質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)速度之比，通常用介質(zhì)的密度p和速度c 的乘積表示。
5. 聲阻抗匹配：聲阻抗相當(dāng)?shù)膬山橘|(zhì)間的耦合。
6. 衰減：*聲波在介質(zhì)中傳播時(shí)，隨著傳播距離的增大，聲壓逐漸減弱的現(xiàn)象。
7.總衰減：任何形狀的*聲束，其特定波形的聲壓隨傳播距離的增大，由于散射、吸收和聲束擴(kuò)散等共同引起的減弱。
8.衰減系數(shù)：*聲波在介質(zhì)中傳播時(shí)，因材質(zhì)散射在單位距離內(nèi)聲壓的損失，通常以每厘米分貝表示。
9.缺陷：尺寸、形狀、取向、位置或性質(zhì)對(duì)工件的有效使用會(huì)造成損害，或不滿足規(guī)定驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)要求的不連續(xù)性。
10. A 型顯示：以水平基線（X 軸）表示距離或時(shí)間，用垂直于基線的偏轉(zhuǎn)（Y軸）表示幅度的一種信息表示方法。
11. 發(fā)射脈沖：為了產(chǎn)生*聲波而加到換能器上的電脈沖。
12. 時(shí)基線：A 型顯示熒光屏中表示時(shí)間或距離的水平掃描線。
13. 掃描：電子束橫過(guò)探傷儀熒光屏所作同一樣式的重復(fù)移動(dòng)。
14. 掃描范圍：熒光屏?xí)r基線上能顯示的較為大聲程。
15. 掃描速度：熒光屏上的橫軸與相應(yīng)聲程的比值。
16. 延時(shí)掃描：在A 型或B 型顯示中，使時(shí)基線的起始部分不顯示出來(lái)的掃描辦法。
17.水平線性：*聲探傷儀熒光屏?xí)r間或距離軸上顯示的信號(hào)與輸入接收器的信號(hào)（通過(guò)校正的時(shí)間發(fā)生器或來(lái)自已知厚度平板的多次回波）成正比關(guān)系的程度。
18.垂直線性：*聲探傷儀熒光屏?xí)r間或距離軸上顯示的信號(hào)與輸入接收器的信號(hào)幅度成正比關(guān)系的程度。
19.動(dòng)態(tài)范圍：在增益調(diào)節(jié)不變時(shí)，*聲探傷儀熒光屏上能分辨的較為大與較為小反射面積波高之比。通常以分貝表示。
20. 脈沖重復(fù)頻率：為了產(chǎn)生*聲波，每秒內(nèi)由脈沖發(fā)生器激勵(lì)探頭晶片的脈沖次數(shù)。
21. 檢測(cè)頻率：*聲檢測(cè)時(shí)所使用的*聲波頻率。通常為0.4 MHz ~15MHz。
22. 回波頻率：回波在時(shí)間軸上進(jìn)行擴(kuò)展觀察所得到的峰值間隔時(shí)間的倒數(shù)。
23. 靈敏度：在*聲探傷儀熒光屏上產(chǎn)生可辨指示的較為小*聲信號(hào)的一種量度。
24.靈敏度余量：*聲探傷系統(tǒng)中，以一定電平表示的標(biāo)準(zhǔn)缺陷探測(cè)靈敏度與較為大探測(cè)靈敏度之間的差值。
25.分辨力：*聲探傷系統(tǒng)能夠區(qū)分橫向、縱向或深度方向相距較為近的一定大小的兩個(gè)相鄰缺陷的能力。
26.抑制：在*聲探傷儀中，為了減少或消除低幅度信號(hào)（電或材料的噪聲），以突出較大信號(hào)的一種控制方法。
27. 閘門(mén)：為監(jiān)控探傷信號(hào)或作進(jìn)一步處理而選定一段時(shí)間范圍的電子學(xué)方法。
28. 衰減器：使信號(hào)電壓（聲壓）定量改變的裝置。衰減量以分貝表示。
29. 信噪比：*聲信號(hào)幅度與較為大背景噪聲幅度之比。通常以分貝表示。
30. 阻塞：接收器在接收到發(fā)射脈沖或強(qiáng)脈沖信號(hào)后的瞬間引起的靈敏度降低或失靈的現(xiàn)象。
31. 增益：*聲探傷儀接收放大器的電壓放大量的對(duì)數(shù)形式。以分貝表示。
32.距離波幅曲線（DAC）：根據(jù)規(guī)定的條件，由產(chǎn)生回波的已知反射體的距離、探傷儀的增益和反射體的大小，三個(gè)參量繪制的一組曲線。實(shí)際探傷時(shí)，可由測(cè)得的缺陷距離和增益值，從此曲線上估算出缺陷的當(dāng)量尺寸。
33. 耦合：在探頭和被檢件之間起傳導(dǎo)聲波的作用。
34. 試塊：用于鑒定*聲檢測(cè)系統(tǒng)特性和探傷靈敏度的樣件。
35.標(biāo)準(zhǔn)試塊：材質(zhì)、形狀和尺寸均經(jīng)主管機(jī)關(guān)或機(jī)構(gòu)檢定的試塊。用于對(duì)*聲檢測(cè)裝置或系統(tǒng)的性能測(cè)試及靈敏度調(diào)整。
36.對(duì)比試塊：調(diào)整*聲檢測(cè)系統(tǒng)靈敏度或比較缺陷大小的試塊。一般采用與被檢材料特性相似的材料制成。
37.探頭：發(fā)射或接收（或既發(fā)射又接收）*聲能量的電聲轉(zhuǎn)換器件。該器件一般由商標(biāo)、插頭、外殼、背襯、壓電元件、保護(hù)膜或楔塊組成。
38. 直探頭：進(jìn)行垂直探傷用的探頭，主要用于縱波探傷。
39. 斜探頭：進(jìn)行斜射探傷用的探頭，主要用于橫波探傷。
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