僅供科研

38DL PLUS的標準配置帶有很多既強大又易于使用的測量功能，以及一些于某些特殊應用的軟件選項。其密封機殼的設計符合IP67評級要求，可以抵御極其潮濕或多沙塵的嚴酷的環境條件。彩色透反VGA顯示功能使得測厚儀顯示屏無論在明亮的陽光下還是在*的黑暗中都能具有的可視性。測厚儀的鍵區既簡潔又符合人體工程學的要求。操作人員使用左手或右手即可輕易訪問所有功能。

38DL PLUS*聲測厚儀產品特點：

可與雙晶和單晶探頭兼容。 

寬泛的厚度范圍：0.08毫米～635毫米，根據材料和所選探頭而定。 

使用雙晶探頭進行腐蝕測厚。 

穿透涂層和回波到回波測量功能，用于測量表面帶有漆層和涂層的材料。 

內部氧化層/沉積物軟件選項。 

對于所有探頭，標準分辨率為0.01毫米。 

使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭，高分辨率軟件選項可進行分辨率為0.001毫米的厚度測量。 

多層軟件選項可對多達4個不同層同時進行測量。 

高穿透軟件選項用于測量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。 

厚度、聲速和渡越時間測量。 

差分模式和縮減率模式。 

時基B掃描模式；每次掃查可獲得10000個可查讀數。 

帶有數字式過濾器的Olympus高動態增益技術。 

用于自定義V聲程補償的V聲程創建功能。 

設計符合EN15317標準。

38DL PLUS*聲測厚儀技術參數：

*聲波測厚儀使用方法

1、測量準備：將探頭插頭插入主機插座中開機，全屏幕顯示數秒后顯示聲速（5900m/s），此時可以開始測量。 

2、校準：在每次更換探頭、電池及環境溫度變化較大時應進行校準。此步驟對保證測量準確度十分關鍵。如有必要可重復多次，按校準鍵進入校準狀態，用耦合劑將探頭與隨機試塊耦合（一般校準快都在儀器身上），屏幕顯示的橫線將逐條消失，直到屏幕顯示4.0mm即校準完畢，拿開探頭后厚度值保持，耦合標志消失。     

說明：當探頭與被測材料耦合時，顯示耦合標志，如果耦合標志閃爍或不出現說明耦合不好。當材料實際聲速與5900m/s不同時，按以下公式計算實際厚度值：Ho=H×Vo/5900,公式中H—5900m/s聲速下測得厚度值；Vo—材料實際聲速值；Ho—材料實際厚度值。 

3、開始測量工件 

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限制的免責聲明：本儀器僅限科研使用。 非IVD醫療用途。我司銷售皆為科研儀器，所售一切商品為非醫療器械。