OLYMPUS 45MG聲測厚儀，聲波測厚儀使用說明，*聲波測厚儀原理

更新時間：2023-11-13

簡要描述：

【產品名稱】：OLYMPUS 45MG*聲測厚儀，*聲波測厚儀使用說明，*聲波測厚儀原理
【產品型號】：45MG
【關鍵詞】：*聲波測厚儀品牌，*聲波測厚儀原理，*聲波測厚儀廠家

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僅供科研

產品特點：

回波到回波/穿透涂層：使用回波到回波選項，儀器屏幕上會顯示金屬的實際厚度，而涂層的厚度會被忽略。穿透涂層選項測量金屬厚度與非金屬涂層的厚度，這兩個厚度都根據它們各自正確的材料聲速值得到了調整。因此，在進行厚度測量時，無需去掉材料表面的漆層或涂層。

單晶：這個選項可對很多材料，如：金屬、塑料、復合材料、玻璃及陶瓷，進行非常的厚度測量。這個選項可與范圍在2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。

單晶高穿透：這個選項可對較厚或衰減性較高的材料，如：玻璃纖維或鑄造金屬，進行厚度測量。可與范圍在0.5 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。這個選項包含單晶選項。

數據記錄器：45MG測厚儀帶有一個功能齊全的內置雙向字母數字式數據記錄器，可方便地存儲和傳輸厚度讀數和波形數據。這個選項包含基于Windows的GageView接口程序。

帶有波形調整功能的實時A掃描：用戶使用這個可選實時A掃描模式，可以在測厚儀的顯示屏上直接查看*聲波形（或稱A掃描），核查厚度測量讀數，對增益和空白設置進行手動調整，以在具有挑戰性的應用中較為大限度地增強測量性能。這個極為有益的選項包含手動增益調整、擴展空白、*回波空白、范圍及延遲參數。

技術規格：

測量
雙晶探頭測量模式	從激勵脈沖后的延遲到*個回波之間的時間間隔。
自動回波到回波（可選）	在兩個連續底面回波之間的時間間隔，不計漆層或涂層的厚度。
穿透涂層測量（可選）	利用單個底面回波，測量金屬的實際厚度和涂層厚度（使用D7906-SM和D7906探頭）
單晶探頭測量模式（可選）	模式1：激勵脈沖與個底面回波之間的時間間隔。模式2：延遲塊回波與個底面回波之間的時間間隔（使用延遲塊或水浸式探頭）模式3：在激勵脈沖之后，位于*個表面回波后的相鄰底面回波之間的時間間隔（使用延遲塊探頭或水浸式探頭）。
厚度范圍	0.080 mm～635 mm（0.003 in.～25.0 in.）視材料、探頭、表面條件、溫度和所選配置而定（要測量較為全的范圍需要使用單晶選項）
材料聲速范圍	0.508 mm/μs～18.699 mm/μs（0.020 in./μs～0.7362 in./μs）
分辨率（可選擇）	低分辨率：0.1毫米（0.01英寸）標準分辨率：0.01毫米（0.001英寸）單晶選項：0.001毫米（0.0001英寸）
探頭頻率范圍	標準：2.25 MHz～30 MHz（-3 dB）高穿透（單晶選項）：0.50 MHz～30 MHz（-3 dB）
一般規格
操作溫度范圍	-10 °C～50 °C（14 °F～122 °F）
鍵盤	密封、以色彩區分功能的鍵盤，帶有觸感及聲音反饋
機殼	防撞擊、防水、裝有密封墊的機殼，機殼上的接口密封。設計符合IP67標準。
外型尺寸（寬 x 高 x 厚）	總體尺寸：91.1 mm x 162 mm x 41.1 mm
重量	430.9克
電源	3節AA電池/USB電源供應
電池工作時間	3節AA堿性電池：20到21小時 3節AA鎳氫電池：22到23小時 3節AA鋰離子電池：35到36小時
標準	設計符合EN15317標準

顯示
彩色透反QVGA顯示	液晶顯示，顯示屏尺寸：54.61毫米 x 41.15毫米
檢波	全波、RF波、正半波、負半波（波形選項）
輸入/輸出
USB	2.0從接口
存儲卡	較為大容量：2 GB可插拔MicroSD存儲卡

內置數據記錄器（可選）
數據記錄器	45MG通過USB或MicroSD卡識別、存儲、調用、清除及傳輸厚度讀數、波形圖像和儀器配置信息。
容量	475000個厚度測量讀數，或20000個帶厚度值的波形
文件名稱和ID編碼	32位字符的文件名，20位字符的字母數字位碼
文件結構	6個標準的或自定義的用于特定應用的文件結構
報告	機載報告總結了數據統計和較為小值/較為大值